质谱最高分辨率:140000 FWHM(m/z ≤ 200);
质谱扫描质量范围:50 – 6000 m/z;
正负极性离子同时扫描;
质谱扫描模式:
1. Full MS-SIM,全扫描和选择离子扫描;
2. All Ion Fragmentation,全离子碎片扫描;
3. Full MS/dd MS2,全扫/二级质谱扫描;
4. Targeted SIM,目标离子选择性扫描;
5. PRM, Parallel Reaction Monitor,平行反应监测;
6. Targeted SIM/ dd MS2,目标离子扫描/二级质量扫描;
7. Full MS/AIF/NL dd- MS2,仪器先做一次全扫描获得一级离子信息,再做AIF获得二级离子信息,然后比较一级与二级离子之间的差值,如果某组分丢失了设置质量数的中性碎片,会自动触发做二级质谱,此扫描方式可获取能产生特定中性丢失组分的二级质谱;
8.DIA,数据非依赖分析。